又稱為高溫蒸煮儀，適用于國防、、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
試驗(yàn)箱性能：
1.溫度范圍:100℃~135℃可設(shè)定.
2.濕度范圍:RH.(飽和蒸氣濕度) 
3.壓力范圍:0.0Kg/cm2~3.00Kg/cm2jue對壓力;(安全壓力容量3Kg/cm2/G=1個(gè)環(huán)大氣壓+2Kg/cm2)
4.時(shí)間范圍:0~1000H
5.溫度分布:(+/-)2.0℃%（100℃）
6.升溫時(shí)間:RT~121℃約35分鐘內(nèi)
7.加壓時(shí)間:0.0Kg/cm2~1.00Kg/cm2約35分鐘內(nèi)

試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1、內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。
2、圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
3、設(shè)計(jì)可靠，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
4、自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測試們會被反壓保護(hù)。
5、型packing，箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式完全不同，可延長packing壽命。
6、實(shí)驗(yàn)開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。
7、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。

試驗(yàn)箱產(chǎn)品特色：
1、具有自動加水功能并且在試驗(yàn)過程中水位過低時(shí)自動。
2、試驗(yàn)過程自動運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡便。
3、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作Jing確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。
4、定時(shí)器：LED數(shù)字型定時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)后才開始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)完全。
5、Jing準(zhǔn)的壓力/溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。
6、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動排出未飽和蒸氣以達(dá)到好的蒸氣品質(zhì)。
7、一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。
8、內(nèi)經(jīng)拋光處理美觀不沾污。

技術(shù)性能指標(biāo)：
1、溫度范圍：＋110℃～＋132℃。
2、溫度波動度：±0、5℃。
3、溫度均勻度：±1、5℃。
4、濕度范圍：R、H飽和蒸氣。
5、濕度波動度：±1、5%R、H。
6、濕度均勻度：±3、0%R、H。
7、壓力范圍：
相對壓力：+0～2kg/cm2。（注：可生產(chǎn)壓力范圍：+0～3kg/cm2）。
Jue對壓力：1、0kg/cm2～3、0kg/cm2。
安全壓力容量：4kg/cm2＝1個(gè)環(huán)境大氣壓＋3kg/cm2。
8、循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán)。
9、測時(shí)間設(shè)置：0～999Hr。
10、加壓時(shí)間：0、00kg/cm2～2、00kg/cm2約30分鐘。
12、升溫時(shí)間：由常溫升至＋132℃約30分鐘非線性空載。
13、溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。
14、試驗(yàn)內(nèi)箱體積供選擇：
注：
1、在無試驗(yàn)負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定30分鐘后測定的性能。
2、關(guān)于溫度上升及下降時(shí)間是指風(fēng)冷式在周圍環(huán)境溫度為26℃±5℃,時(shí)所測量的性能。
3、溫濕度傳感器設(shè)置于空調(diào)箱出風(fēng)口處。
4、溫濕度均勻度定義為：實(shí)驗(yàn)室?guī)缀沃行狞c(diǎn)處，溫濕度時(shí)的所測之資料。
5、以上數(shù)據(jù)性能，測量，計(jì)算方法參照GB5170、2、GB5170、5的方法測定。
高壓加速老化試驗(yàn)箱詳細(xì)說明：
    隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC（國際電工會）所標(biāo)準(zhǔn)化。
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